1. 完全將Prober與Tester整合，無介面上溝通的問題，點測速度效能增進20%~70%
2. 亮度量測直接收光，不經過光學顯微鏡，符合CIE127測試之標準，量測結果更為準確
3. 特殊遮光罩設計，杜絕背景光干擾，提昇測試精確度
4. 光學尺輔助，確保長期定位精確度
5. 可錄音式警報系統，可依不同狀況錄製不同語音或音樂

- 產品介紹 (pdf)

- 詳細說明及比較 (pps)

-操作手冊

1. 直接放入晶片便可計數，無須再用人工手動框選 。
2. 提供標籤列印。
3. 全方位簡易操作介面、提升效能精確度。
4. 可自動辨識晶粒範圍 。

本機是針對LED封裝後之測試，以半自動化之設備增加測試效率，進行LED測試，並根據測試結果加以分級，顯示在螢幕上，操作者根據顯示之級別，手動將之取放於該級之收納盒內。