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產品名稱 : θ搖擺機構

θ搖擺機構  ~選配項目~

使用時機 : 晶粒較大 ( 例如: 鋁合金材料 )

μ-X360s是以等向性多結晶為前提來計算出殘留應力,

但晶粒太大的話,測量精度也有可能會下降。

這是因為X光照射面內,繞射回折的晶粒較少,

使得所取得的全周德拜環不完整,標準偏差值變大所造成的影響。

proimages/晶粒大小德拜環差異.jpg

θ搖擺機構使用有無的差異

透過搖擺法,X光在照射時改變照射的角度,可以增加X光繞射回折的晶粒數量

讓所取得的全周德拜環更完整

proimages/有無搖擺德拜環差異.jpg

 

使用搖擺法檢測時,請用測量精度指標的「標準偏差」值來確認效果

可達到標準偏差值下降,量測精度提升的效果

proimages/有無搖擺標準偏差值差異.jpg