使用時機 : 晶粒較大 ( 例如: 鋁合金材料 )
μ-X360s是以等向性多結晶為前提來計算出殘留應力,
但晶粒太大的話,測量精度也有可能會下降。
這是因為X光照射面內,繞射回折的晶粒較少,
使得所取得的全周德拜環不完整,標準偏差值變大所造成的影響。
透過搖擺法,X光在照射時改變照射的角度,可以增加X光繞射回折的晶粒數量
讓所取得的全周德拜環更完整
使用搖擺法檢測時,請用測量精度指標的「標準偏差」值來確認效果
可達到標準偏差值下降,量測精度提升的效果