s-Laue單晶體方位檢測系統

X-ray單晶體方位檢測系統 Model: s-Laue

           ―桌上型 操作簡單 易上手 ―

 產品特色

節省空間且易於操作的s-Laue

◎ 可高速採集單晶材料X射線衍射(Laue spots)圖像。

◎ 桌上型空冷式X射線產生器和高靈敏度探測器。

◎ 由於X射線是垂直向下照射，可以很容易地設置待測樣品。

◎ 使用顯微鏡可精確地對準檢測位置。

◎ 體積小、重量輕和節省空間。

應用領域

◎ 測量晶面取向

◎ 檢查和調整切割取向

◎ 評估結晶度

◎ 分析與加工相關的晶體生長

◎ 半導體器件的製造和研發