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X-ray單晶取向量測儀 【PULSTEC s-Laue】

proimages/New.png  桌上型 操作簡單 易上手 ―

 

 產品特色

節省空間且易於操作的s-Laue

 可高速採集單晶材料X射線衍射(Laue spots)圖像。

 桌上型空冷式X射線產生器和高靈敏度探測器。

 由於X射線是垂直向下照射,可以很容易地設置待測樣品。

 使用顯微鏡可精確地對準檢測位置。

 體積小、重量輕和節省空間。

 

應用領域

◎ 測量晶面取向

◎ 檢查和調整切割取向

◎ 評估結晶度

◎ 分析與加工相關的晶體生長

◎ 半導體器件的製造和研發

 

proimages/s-Laue檢測步驟.jpg

proimages/s-Laue控制軟體.jpg

 

規格

    X射線光管種類: W ()

    管電壓/管電流: 30kV / 1.5mA

    冷卻方式空冷式

    入射方向與樣品垂直

    照射直徑φ1mm標準

    試料距離: 27mm

    測定時間: 60

    樣品台: 6 (θ/ Tan. / Rad. / X / Y / Z)

    外型尺寸W224mm x D364mm x H480mm

    本體重量24公斤

    電源: AC 100V~240V , 50/60 Hz