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產品介紹
X-ray單晶方位檢測儀【s-Laue】
― 桌上型 操作簡單 易上手 ―
產品特色
節省空間且易於操作的s-Laue
◎ 可高速採集單晶材料X射線衍射(Laue spots)圖像。
◎ 桌上型空冷式X射線產生器和高靈敏度探測器。
◎ 由於X射線是垂直向下照射，可以很容易地設置待測樣品。
◎ 使用顯微鏡可精確地對準檢測位置。
◎ 體積小、重量輕和節省空間。
應用領域
◎ 測量晶面取向
◎ 檢查和調整切割取向
◎ 評估結晶度
◎ 分析與加工相關的晶體生長
◎ 半導體器件的製造和研發
規格
◎ X射線光管種類: W (鎢)
◎ 管電壓/管電流: 30kV / 1.5mA
◎ 冷卻方式: 空冷式
◎ 入射方向: 與樣品垂直
◎ 照射直徑: φ1mm標準
◎ 試料距離: 27mm
◎ 測定時間: 60秒
◎ 樣品台: 6軸 (θ/ Tan. / Rad. / X / Y / Z)
◎ 外型尺寸: W224mm x D364mm x H480mm
◎ 本體重量: 約24公斤
◎ 電源: AC 100V~240V , 50/60 Hz